การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเลกตรอนแบบส่องกราด และเครื่องมือวิเคราะห์ธาตุจากรังสีเอ๊กซ์
การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเลกตรอนแบบส่องกราด และเครื่องมือวิเคราะห์ธาตุจากรังสีเอ๊กซ์
กล้องจุลทรรศน์อิเลกตรอนแบบส่องกราด และเครื่องวิเคราะห์ธาตุจากรังสีเอ็กซ์ (SEM/EDX)
SEM/EDX เป็นเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง ที่นำไปปรับใช้ได้หลากหลายวิธีการ เอแอลเอส นำ SEM/EDX มาให้บริการทดสอบ
- การหาองค์ประกอบธาตุของอนุภาคปนเปื้อนต่างๆ โดยวิเคราะห์ได้ถึงระดับน้อยกว่าหนึ่งไมครอน
- การหาองค์ประกอบธาตุบนพื้นผิววัสดุที่สนใจ รวมไปถึงวิเคราะห์หาร่องรอยของการกัดกร่อน หรือกระบวนการออกซิเดชั่น
- วัดความหนาชั้นเคลือบ
- ตรวจหา และวัดชั้นแพร่กระจายระหว่างชั้นโลหะ
- ปริมาณฝุ่น ที่อาจจะมีความหนาแน่นมากจนเกิดการระเบิดด้วยตัวเอง
- ปริมาณฝุ่นที่ก่อให้เกิดการระคายเคือง
